IRADETS alanında yetkin personelleri ile yurt içi ve yurt dışında akredite olmuş bir çok tesisi kullanarak radyasyon analizi gerçekleştirmekte ve  rapor sunmaktadır. Alanında uzman ve tecrübeli personelleri sayesinde ışınlama öncesi eğitim, hazırlık, simülasyon ve öneriler, ışınlama sonrası analiz, hesaplamalar ve detaylı rapor sunumu ile ilgili komponent üzerinde detaylı radyasyon etkileri çalışılmaktadır.

IRADETS in yurt içi ve yurt dişi ışınlama tesisleri ile kurduğu geniş ağ her türlü ışınlama hizmetini bu tesislerde öncelikli kullanıcı avantajı ile ESA/JEDEC/MIL/ASTM standartlarında gerçekleştirebilmektedir. Işınlama sonrası detaylı analiz ve raporlarda bu standartlara uygun olarak hazırlanmakta ve gerektiğinde zırhlama, etkiyi azaltma yöntemlerini ya da alternatif komponent/cihaz çözümlerini önerebilmektedir

IRADETS A.S’nin kendi geliştirdiği ve patentli sistemleri ile elektronik komponentler üzerindeki radyasyonun tetiklediği tekil olay etkilerinin (Single Event Effect – SEE) laboratuvarda ön araştırmasının yapılmasını, VUV/UV testlerinin güneş pili, optik malzeme, kompozitli ya da meta-materyaller üzerinde ESA standartlarında yapılabileceği altyapısı da bu konularda ve bu kaliteyle hizmet veren Türkiye’de tek Avrupa’daki sayılı birkaç şirketten birisi olmanın gururunu taşımaktadır. 

IRADETS Tarafından Geliştirilen ve ESA Tarafından Tanınmış Olan Test Sistemleri

LAZER SİSTEMİ:

Elektronik komponentlere SEE etkisi yaratacak benzetim deney düzeneği;

Bir elektronik komponentin mikron hassasiyetinde radyasyona duyarlılık haritasını çıkarabilme, SEE etkilerinin laboratuvar ortamında yaratılması ve ışınlama için teste götürülmeden önce tüm sistemin laboratuvarda kontrol edilebilmesi özelliklerine sahiptir.

Avantajları: Elektronik tasarımı sırasında değişik üretim guruplarının ya da prototiplerin, mikron seviyesinde radyasyona hassasiyet, haritalandırma, kontrol, komponentin dayanıklılığı konusunda çabuk fikir sahibi olmak.

Teknik özellikler: Sistem, ortalama darbe genişliği 15 ns ve pik gücü 20 W (10 kHz rpf’de) olan bir IR (915 nm) atımlı lazer diyot kaynağı, optik düzenek, submikron hassasiyetli XYZ Theta mekanik düzeneği, lazer profili detektörleri ve GHz osiloskoptan oluşmaktadır.

Hizmet verilen müşteriler: ESA/ESTEC; TESAT, CAEN, SITAEL, IMEC, STM

Yapılan yayınlar ya da sunular:

“The radiation sensitivity mapping of ICs using an IR pulsed laser system”, B.Alpat et al,  Microelectronics Reliability 43 (2003) 981–984.

“A pulsed nanosecond IR laser diode system to automatically test the Single Event Effects in the laboratory”, B.Alpat et. al,  Nucl. Ins. & Meth. in Phys. Res. A 485 (2002) 183–186.

“Radiation hardness assurance: Innovative aspects and challenges”, B.Alpat et al., Proc. of SPIE Vol. 11042 1104210-1

UV TEST DÜZENEĞİ

Optik, materyal, kompozit materyal, güneş pili gibi birçok malzemenin testleri güneşin 200-400 nm altındaki salınım spektrumunu takip eder şekilde ve ESA/ECSS-Q-ST-70-06C’ standardının önerdiği gibi gerçekleştirilmektedir.

Avantajları: Gerçek zamanlı ışınlama, uzaktan kontrol edilebilir.

Teknik özellikler: Numuneler, bir quartz pencere ile kapatılan silindirik bir ışınlama odasının tabanına yerleştirilmektedir. Pencerenin üzerine bir Helios Quartz cıva lambası yerleştirilir. Gazdan arındırma işleminden sonra (10-5 mbar’da vakum) bölme, substrat sıcaklığını 40 ° C’nin altında tutmak için ışınlama sırasında yeterli bir ısı dağılımına izin veren 1.1 bar statik He ile doldurulmaktadır. Tüm ışınlama süresi boyunca ana deneysel parametrelerin gerçek zamanlı uzaktan kontrolü için hava ve su soğutma sistemleri, UV ve görünür ışık detektörleri sıcaklık veri toplama sistemi ve bir web kamerası içerir.

Hizmet verilen müşteriler: ESA, CONSORZIO CREO, TOSEDA 

Yapılan yayınlar: 

“First Surface Flexible Optical Solar Reflectors with Interferential Cermet Coatings”, S. Mengali et al., Proceedings of the 14th ISMSE & 12th ICPMSE, Biarritz, France, 1 to 5 October 2018. 

”Test Di Substrati per Telescopi Spaziali: Irraggiamenti Nell’ultravioletto di Film Poliimmide in Aria, Vuoto E Atmosfera Controllata “, P. Di Lazzaro et al., ENEA Technical Report RT / 2017/9 / ENEA (2017). http://openarchive.enea.it/bitstream/handle/10840/8534/RT-2017-09-ENEA.pdf?sequence=1 

“Testing of Substrates for Flexible Optical Solar Reflectors: Irradiations of Nano-hybrid Coatings of Polyimide Films with 20 keV Electrons and with 200- 400 nm Ultraviolet Radiation”, B.Alpat et al., 2019 JINST 14 T06003″

SEM Test Düzeneği

Kendi geliştirdiğimiz yöntem ile belli teknik özelliklere sahip olan herhangi bir SEM (Scanning Electron Microscope) üzerinde SEM in 20-40 keV arasındaki elektronları ile ESA (European Space Agency) standartlarına uygun yük birikim (charge build up) testlerini gerçekleştirebilmekteyiz. Geliştirdiğimiz yöntem Sabancı Üniversitesindeki bir SEM üzerinde iki ESA projesinde kullanılmış dolayısı ile ESA heyetleri tarafından geçerliliği onaylanmıştır. 

Teknik özellikler: Elektron enerjisi, yoğunluğu optik açıklığı uygun olan SM lerde fiziki olarak normal çalışma noktasının altıdaki bur yüzeyde elektron demetinin açılım yaptığı yer çalışma noktası olarak kullanılmaktadır. Avantajları: Bu test için ad-hoc geliştirilmiş çok az tesis bulunmaktadır ve ihtiyaçlara cevap vermemektedirler. Bunlardan en önemlisi ESA-ESTEC de bulunmaktadır. Bu yöntemin uygulanabileceği özelliklerdeki herhangi bir SEM (ki bu çoğunluğunu kapsamakta) bu testler yapabilmektedir. 

Hizmet verilen müşteriler: ESA, Consorzio CReo

Yapılan yayınlar: “Radiation hardness assurance: Innovative aspects and challenges”, B. Alpat et al., Proc. of SPIE Vol. 11042 1104210-1, 2019.